幫助工科學(xué)生準備好將想法變成現實(shí) 利用儀器實(shí)操體驗，幫助未來(lái)的工程師們準備好應對未來(lái)的精彩挑戰。

當今汽車(chē)所采用的電子元件和系統比以往更復雜、更敏感。這些先進(jìn)技術(shù)使得車(chē)輛更安全、更高效、更加互聯(lián)互通。

?物聯(lián)網(wǎng)的到來(lái)，讓智能、互聯(lián)和兼容器件的需求與日俱增。這些新器件不只是帶來(lái)卓越的創(chuàng )新和商機。還帶來(lái)新的硬件挑戰，從無(wú)線(xiàn)通信模塊的設計到最大化低電流電池消耗。

無(wú)論您是做元件QC控制，元件篩選，還是元件、材料研發(fā)及制造 無(wú)論您是做實(shí)驗室測量，還是生產(chǎn)批量測試 無(wú)論您是采購工程師，還是研發(fā)、測試工程師，成本和貨期都不是問(wèn)題 您需要關(guān)注產(chǎn)品：IM3536、IM3570、IM7581、IM7583

我們購買(mǎi)智能手機、智能手表等智能產(chǎn)品時(shí)，往往都希望續航時(shí)間盡量長(cháng)， 如何降低功耗是當前設計工程師提升續航能力的主要手段。 想要降低功耗就需了解智能設備的功耗模式，測量功耗時(shí)捕獲波形和準確測量電流是一項技術(shù)活， 如果您在測試中有遇到過(guò)這..

物聯(lián)網(wǎng)發(fā)展熱度持續升溫，諸如 BT、NB-IOT，LORA、SENSOR等低功耗物聯(lián)網(wǎng)解決方案被越來(lái)越多應用在產(chǎn)品研發(fā)和設計上。低功耗測試作為研發(fā)設計重要環(huán)節，迫切需要更契合工程師要求的解決方案。

創(chuàng )新計劃中，往往沒(méi)有時(shí)間采用邏輯分析儀或協(xié)議分析儀深入跟蹤以查找難以發(fā)現的混合信號問(wèn)題。 全新且高度集成的儀器已推出，能為設計人員提供當今復雜嵌入式系統的模擬和數字信號、串行協(xié)議和射頻信號的多域相關(guān)性視圖。

您知道嗎，大部分項目的 EMI/EMC 測試第一次就失敗了？提早發(fā)現合規問(wèn)題，避免進(jìn)度延遲及節省金錢(qián)。如果您在實(shí)驗室中執行預一致性測試，可顯著(zhù)提高完整 EMI 一致性測試第一次就成功通過(guò)的概率。下面的視頻和技術(shù)文檔說(shuō)明了如何使用經(jīng)濟實(shí)惠的泰..

物聯(lián)網(wǎng)的到來(lái)，正在改變我們構建事物的方式。從使用傳感器預防工作場(chǎng)所發(fā)生意外，到構建更直觀(guān)的自動(dòng)化測試儀，驅動(dòng)這些設備的硬件也在驅動(dòng)下一次偉大的技術(shù)革命。

當今汽車(chē)所采用的電子元件和系統比以往更復雜、更敏感。這些先進(jìn)技術(shù)使得車(chē)輛更安全、更高效、更加互聯(lián)互通。但是，也在測試和驗證方面帶來(lái)了新的挑戰···