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      1. 6200/2182A超低電阻配置
      2. 6200/2182A超低電阻配置

      6200/2182A超低電阻配置

      • 型號6200/2182A
      • 品牌KEITHLEY/吉時(shí)利
      • 價(jià)格

      適用于超低電阻測量的兩個(gè)選項 連接時(shí),2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一臺儀器一樣運行。2182A/622X 組合是電阻測量、脈沖式 I-V 測量和微分電導測量的理想工具,比其他解決方案具有更顯著(zhù)的優(yōu)勢。2182A/622X 組合也非常適合許多納米技術(shù)應用,因為它測量電阻時(shí)可以不消耗被測器件 (DUT) 的太多功率,否則可能會(huì )導致結果無(wú)效,甚至損壞 DUT。

      1. 概述
      2. 型號
      3. 附件
      4. 視頻
      適用于超低電阻測量的兩個(gè)選項

      連接時(shí),2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一臺儀器一樣運行。2182A/622X 組合是電阻測量、脈沖式 I-V 測量和微分電導測量的理想工具,比其他解決方案具有更顯著(zhù)的優(yōu)勢。2182A/622X 組合也非常適合許多納米技術(shù)應用,因為它測量電阻時(shí)可以不消耗被測器件 (DUT) 的太多功率,否則可能會(huì )導致結果無(wú)效,甚至損壞 DUT。


      特點(diǎn)

      優(yōu)勢

      測量電阻范圍為 10n? 至 100M?測量范圍非常廣,專(zhuān)門(mén)用于超低電阻測量,以檢定高導電性材料、納米材料和超導材料。
      同步的電流脈沖源,測量時(shí)間短至 50μs限制元器件(如納米器件和納米材料)中的功耗,如果以非常低的功率電平進(jìn)行測試,這些元器件很容易損壞。
      增量模式電流反向、電阻測量技術(shù)通過(guò)消除熱偏移影響以及將讀數噪聲降低到 30nV p-p 噪聲(典型值),進(jìn)行精確的超低電阻測量??梢詫Χ鄠€(gè)讀數進(jìn)行平均,以更大程度地降低噪聲。
      微分電導測量比其他電導測量技術(shù)的速度快十倍,噪聲更小。無(wú)需平均多次掃描的結果,即可實(shí)現準確的測量。
      納伏表和電流源接口無(wú)縫配合進(jìn)行微分電導和電阻測量時(shí),將這兩臺儀器作為一臺單獨的儀器來(lái)運行。
      增量、微分電導和脈沖模式產(chǎn)生最小的電流瞬變可以檢定可易被電流尖峰損壞的設備。


      6220/2182A


      電壓電阻PC 接口
      1nV-100V

      10n? - 100M?

      直流:±10fA – 100mARS-232、GPIB
      6221/2182A
      電壓電阻PC 接口
      1nV – 100V

      10n? - 100M?

      直流:±10fA – 100mA
      交流:4pAp-p – 200mAp-p

      RS-232、GPIB、LAN



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