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Tektronix/泰克
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KEITHLEY/吉時(shí)利
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FLUKE/福祿克
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HIOKI/日置
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FLIR/菲力爾
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6200/2182A超低電阻配置
- 型號6200/2182A
- 品牌KEITHLEY/吉時(shí)利
- 價(jià)格
適用于超低電阻測量的兩個(gè)選項 連接時(shí),2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一臺儀器一樣運行。2182A/622X 組合是電阻測量、脈沖式 I-V 測量和微分電導測量的理想工具,比其他解決方案具有更顯著(zhù)的優(yōu)勢。2182A/622X 組合也非常適合許多納米技術(shù)應用,因為它測量電阻時(shí)可以不消耗被測器件 (DUT) 的太多功率,否則可能會(huì )導致結果無(wú)效,甚至損壞 DUT。
適用于超低電阻測量的兩個(gè)選項
連接時(shí),2182A 型和 6220 或 6221 型可以如同一臺儀器一樣運行。2182A/622X 組合是電阻測量、脈沖式 I-V 測量和微分電導測量的理想工具,比其他解決方案具有更顯著(zhù)的優(yōu)勢。2182A/622X 組合也非常適合許多納米技術(shù)應用,因為它測量電阻時(shí)可以不消耗被測器件 (DUT) 的太多功率,否則可能會(huì )導致結果無(wú)效,甚至損壞 DUT。
特點(diǎn) | 優(yōu)勢 |
測量電阻范圍為 10n? 至 100M? | 測量范圍非常廣,專(zhuān)門(mén)用于超低電阻測量,以檢定高導電性材料、納米材料和超導材料。 |
同步的電流脈沖源,測量時(shí)間短至 50μs | 限制元器件(如納米器件和納米材料)中的功耗,如果以非常低的功率電平進(jìn)行測試,這些元器件很容易損壞。 |
增量模式電流反向、電阻測量技術(shù) | 通過(guò)消除熱偏移影響以及將讀數噪聲降低到 30nV p-p 噪聲(典型值),進(jìn)行精確的超低電阻測量??梢詫Χ鄠€(gè)讀數進(jìn)行平均,以更大程度地降低噪聲。 |
微分電導測量 | 比其他電導測量技術(shù)的速度快十倍,噪聲更小。無(wú)需平均多次掃描的結果,即可實(shí)現準確的測量。 |
納伏表和電流源接口無(wú)縫配合 | 進(jìn)行微分電導和電阻測量時(shí),將這兩臺儀器作為一臺單獨的儀器來(lái)運行。 |
增量、微分電導和脈沖模式產(chǎn)生最小的電流瞬變 | 可以檢定可易被電流尖峰損壞的設備。 |
6220/2182A
電壓 | 電阻 | 源 | PC 接口 |
---|---|---|---|
1nV-100V | 10n? - 100M? | 直流:±10fA – 100mA | RS-232、GPIB |
6221/2182A
電壓 | 電阻 | 源 | PC 接口 |
---|---|---|---|
1nV – 100V | 10n? - 100M? | 直流:±10fA – 100mA | RS-232、GPIB、LAN |
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