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Tektronix/泰克
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KEITHLEY/吉時(shí)利
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FLUKE/福祿克
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HIOKI/日置
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FLIR/菲力爾
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C測試儀 3504-40/50/60
- 型號3504-40,3504-50,3504-60
- 品牌HIOKI/日置
- 價(jià)格
高速測量2ms 能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進(jìn)行被測物合格與否的判斷 對應測試線(xiàn),比較器功能/觸發(fā)輸出功能 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試 3504-40記錄工具,實(shí)現高速/低成本的測試 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類(lèi)等
● 高速測量2ms
● 能根據C 和D (損耗系數*2)的測量值,進(jìn)行被測物合格與否的判斷
● 對應測試線(xiàn),比較器功能/觸發(fā)輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進(jìn)行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具,實(shí)現高速/低成本的測試
● 查出全機測量中的接觸錯誤,提高成品率
輸入用探頭/測試夾具,實(shí)體不附帶。按照測量目的,不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
基本參數
測量參數 | Cs,Cp(電容),D(損耗系數tanδ) |
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測量范圍 | C:0.9400pF~20.0000mF D:0.00001~1.99000 |
基本精度 | (代表值)C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016 ※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B~E為各系數 |
測量頻率 | 120Hz, 1kHz |
測量信號電平 | 恒壓模式: 100mV (僅限3504-60), 500 mV, 1 V 測量范圍: CV 100mV:~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 500mV: ~ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz) CV 1V: ~ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ~ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz) |
輸出電阻 | 5Ω(CV測量范圍以外的開(kāi)路端子電壓模式時(shí)) |
顯示 | 發(fā)光二級管 (6位表示,滿(mǎn)量程計算器根據量程而定) |
測量時(shí)間 | 典型值: 2.0 ms ( 1 kHz, FAST) ※測量時(shí)間根據測量頻率、測量速度的不同而不同 |
功能 | BIN分類(lèi)測量 (3504-40除外), 觸發(fā)同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動(dòng)功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O), RS-232C接口(標配), GP-IB接口(3504-40除外) |
電源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可選擇), 50/60Hz, 最大110VA |
體積及重量 | 260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg |
附件 | 電源線(xiàn)×1,預備電源保險絲×1,使用說(shuō)明書(shū)×1 |
測試冶具或電纜
SMD測試治具9699
用于底部有電極的SMD DC~120MHz,測試樣品 尺寸:寬1.0~4.0mm,高1.5mm以下
SMD測試治具9677
用于側面有電極的SMD DC~120MHz,測試樣品 尺寸:3.5mm±0.5mm
SMD測試治具9263
直接連接型, DC~5 MHz 測試尺寸: 1mm~10.0mm
測試治具9262
DC~8 MHz, 直接連接型
測試治具9261
電纜連接型, DC ~ 5 MHz, 1m長(cháng)
鑷形探頭L2001
線(xiàn)長(cháng)73cm,DC~8MHz,50Ω,前端電極間隔:0.3~6mm(IM9901:JIS尺寸1608~5750)(IM9902:JIS尺寸0603~5750)
4端子測試探頭 9140
DC~100kHz, 1m長(cháng)
打印機
打印機 9442
數碼打印
AC適配器9443-02
適用于打印機9442
連接電纜 9444
適用于9442, 線(xiàn)長(cháng):1.5 m
記錄紙 1196
112mm x 25m, 10卷/盒
PC 通訊器
GP-IB連接線(xiàn)9151-02
2m長(cháng)
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